Sistem Ujian PCM Nebula untuk Telefon bimbit & Bateri Li-ion Produk Digital
Gambaran keseluruhan:
Penguji pantas untuk ujian ciri asas dan perlindungan PCM dengan penyelesaian 1 wayar dalam pek bateri Li-ion 1S & 2S
Permohonan:
IC yang berkenaan merangkumi IC pengurusan siri TI Corporation (seperti BQ27742, BQ277410, BQ28z610, BQ27541, BQ27545, BQ2753X).
Ciri sistem:
• Menyokong pelbagai IC alat pengukur gas, ujian pantas dan ketepatan tinggi ；
• Saluran bebas dan reka bentuk modular memudahkan penyelenggaraan, fungsi pelaporan data yang canggih
• Ujian serentak untuk setiap saluran bebas: kelajuan ujian yang unggul ；
• Ketepatan tinggi ；
• Semua data ujian dimuat pada disimpan di pangkalan data pelayan dengan fungsi mencari dan mengesan
Item Ujian:
Ujian Penggunaan Arus Statik
Ujian Rintangan
Pengukuran Kapasiti
Ujian Fungsi Perlindungan pelbagai peringkat
Titik Perlindungan dan Pengambilan Masa
Berkedip dan kalibrasi IC tolok gas
Sesuai dengan Protokol Komunikasi HDQ, I2C, SMBus
Tahap dan Kekerapan elektrik Komunikasi Boleh Laras
Spesifikasi:
| Indeks | Julat | Ketepatan |
| Voltan output bateri analog | 50 ~ 2000mV | ± (0.01% R.D + 0.01% FS) |
| 2000 ~ 5000mV | ± (0.02% R.D + 0.01% FS) | |
| Arus keluaran sumber arus tetap | 30A ~ 50A | Masa muat turun: 20mS |
| 20A ~ 30A | ± 30mA | |
| 3A ~ 20A | ± 10mA | |
| 20mA ~ 3000mA | ± (0.01% R.D + 0.02% FS) | |
| Pengukuran kapasiti | 200nf ~ 2000nf | ± （10% RD + 10nF） |
| Pengukuran penggunaan semasa | （mTahap) 0 ~ 3000mA | ± 0.01% R.D + 0.02% FS |
| （uA Tingkat） 1-2000uA | ± 0.01% R.D + 1uA | |
| （nA Tingkat） 20-1000nA | ± 0.01% RD + 20nA |
