China Ia adalah penguji pantas yang digunakan pada ujian ciri asas dan perlindungan PCM 1 wayar dalam pek bateri 1S8&2S L-ion.IC yang berkenaan termasuk siri managementICs ofTI Corporation (seperti BQ27742, BQ277410 BQ28z610, BQ 27541, BQ 27545 BQ2753X).pengilang dan pembekal |Nebula

Ia adalah penguji pantas yang digunakan pada ujian ciri asas dan perlindungan PCM 1 wayar dalam pek bateri L-ion 1S8&2S.IC yang berkenaan termasuk siri managementICs ofTI Corporation (seperti BQ27742, BQ277410 BQ28z610, BQ 27541, BQ 27545 BQ2753X).

Ia adalah penguji pantas yang digunakan pada ujian ciri asas dan perlindungan PCM 1 wayar

dalam pek bateri L-ion 1S8&2S.IC yang berkenaan termasuk siri pengurusanTI

Corporation (seperti BQ27742, BQ277410 BQ28z610, BQ 27541, BQ 27545 BQ2753X).

HUBUNGI SEKARANG

Serasi dengan pelbagai jenis IC Tolok Gas, tinggi

ketepatan dan kelajuan ujian yang pantas

Saluran berfungsi secara bebas untuk

menjimatkan masa ujian dan tenaga kerja

Reka bentuk modular saluran untuk penyelenggaraan mudah dan

penggantian;Fungsi laporan data yang kaya

Ketepatan yang tinggi

Model	BAT-NEDQ-04-V009
Parameter	Julat	Ketepatan
Voltan Keluaran Bateri Analog	50-2000mV	±(0.01%R.D+0.019FS)
Voltan Keluaran Bateri Analog	2000-5000mV	±(0.019%R.D+0.01%FS)
Arus Keluaran Bateri Analog	0-3000mA	±(0.01%R.D+0.02%FS)
Pengecas Output/Voltan terukur	20-5000mV	±(0.01%R.D+0.05%FS)
Pengecas Output/Voltan terukur	5000-10000mV	±(0.1%R.D+5mV)
Pengecas Output/diukur Arus	20-3000mA	±(0.1%R.D+1mA)
Output Bateri AnalogVoltage Pengukuran	50~1000mV	±(0.01%R.D+0.1%FS)
Output Bateri AnalogVoltage Pengukuran	1000~5000mV	±(0.01%R.D+0.01%FS)
Pengukuran Arus Bateri Analog (Penggunaan terkini)	(mAlevel）0~1000mA	±0.01% R.D+0.02%FS
	(mAlevel）1000~3000A	±0.01% R.D+0.02%FS
	(tahap uA) 1~2000uA	±0.01% R.D+1uA
	(tahap nA) 20~1000nA	±0.01%R.D+20nA
PACK Ukuran Semasa	200-10000mV	±(0.02%R.D+0.01%FS)